高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀

簡要描述：ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz。

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廠商性質：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-08-17
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介電常數(shù)測試儀

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品牌	AIRTIMES/中航時代

    ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀儀器介紹

    ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

    技術參數(shù)

    ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀采用了多項技術：

    1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

    2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

    3 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

    4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

    7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位

    主要技術特性

Q 值測量范圍	2 ～ 1023 ,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差	≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍	1 ～ 200pF
主電容調節(jié)范圍	18 ～ 220pF
主電容調節(jié)準確度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段(虛擬)	100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個字

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