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在哪里可以做介電常數(shù)的測試

簡要描述:ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質量分析,品質控制,科研生產,也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業(yè)作科研實驗儀器.

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-08-17
  • 訪  問  量:1385

詳細介紹

介電常數(shù)介質損耗測試儀

 ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀采用了多項技術:

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

  ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。

 

主要技術特性

Q 值測量范圍

2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔

固有誤差

≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

工作誤差

≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

電感測量范圍

4.5nH ~ 140mH

電容直接測量范圍

1 ~ 200pF

主電容調節(jié)范圍

18 ~ 220pF

主電容調節(jié)準確度

120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %

信號源頻率覆蓋范圍

100kHz ~ 160MHz

頻率分段 ( 虛擬 )

100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個字

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